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恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」
簡要描述：恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」用于同時需大量的或大型的對電子、汽車、橡膠、塑膠、航太科技科技及通信器材或大型等產品進行溫濕度環(huán)境測試。從而判斷產品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格。將提供給您預測和改進產品的質量和可靠性的依據(jù)。
產品型號： THA-1000PF
所屬分類：大型恒溫恒濕試驗箱
更新時間：2025-05-21
廠商性質：生產廠家
恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」
主要用于大型工業(yè)設備、車用電子產品等進行批量產品放入，進行復雜高低溫濕熱交變試驗。仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設備，是提高產品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備。
容積、尺寸和重量 | |
標稱內容積 | 1000L |
內型尺寸 | W1000*H1000*D1000mm |
外型尺寸 | W1260*H1900*D1920mm |
重量 | 約125㎏ |
保溫圍護結構
外壁材料：SUS﹟304不銹鋼板或烤漆處理.
內壁材料：不銹鋼板SUS﹟304 .
箱體保溫材料：耐高溫硬質聚氨酯泡沫.
箱門保溫材料：耐高溫硬質聚氨酯泡沫
恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」
加濕系統(tǒng)
1、內置式鍋爐蒸汽式加濕器，超聲波加濕等
2、具有水位自動補償、缺水報警系統(tǒng)
3、遠紅外不銹鋼高速加溫（0.75KW×3）電熱管
4、濕度控制均采用P.I.D控制
執(zhí)行滿足標準及試驗方法
①GB/T 2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法
②GB/T 2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法
③GJB 150.3-1986 高溫試驗
④GJB 150.4-1986 低溫試驗
⑤IEC68-2-1 試驗A：寒冷.
⑥GB 11158《高溫試驗箱技術條件》
⑦GB/T 2423.2《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法》.
⑧GB/T10586-89 濕熱試驗箱條件
⑨GT/T2423.3-93、GT/T2423.4-93 濕熱試驗箱條件
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