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半導體器件高低溫循環測試系統
半導體器件高低溫循環測試系統，是半導體產業的關鍵質量保障利器。該系統專為嚴苛的半導體測試需求打造，能精準模擬極-端溫度環境，溫度范圍可達 -60℃至 150℃，控溫精度高達 ±0.5℃，有力確保測試的準確性。通過先進的循環風道設計，使箱內溫度均勻性出色，消除局部溫差影響。無論是芯片、晶體管，還是集成電路，在其高頻次的高低溫交替沖擊下，潛在缺陷與性能短板將無所遁形。搭配智能觸控操作屏，參數設置便捷，實時數據一目了然，為半導體器件從研發到量產全程護航。
一、皓天設備恒溫恒濕試驗箱的型號及規格：
容積(單位:L) | 工作室尺寸(D*W*H)mm | 外型尺寸(D*W*H)mm |
80L | 400×400×500 | 930×660×1485 |
150L | 500×500×600 | 950×1000×1660 |
225L | 600×500×750 | 1030×1000×1815 |
800L | 800×1000×1000 | 1230×1500×2080 |
1000L | 1000×1000×1000 | 1430×1500×2080 |
半導體器件高低溫循環測試系統
二、技術參數：
型號：SMD-150AF
1、溫度范圍:-60℃~150℃
2、濕度范圍:20~98%RH(溫度在25℃~80℃時)
3、溫度均勻度:≤2℃ (空載時)
4、濕度均勻度:+2、-3%RH
5、溫度波動度:±0.5℃ (空載時)
6、濕度波動度:±2%
7、溫度偏差:±2℃
8、濕度偏差:±2%
半導體器件高低溫循環測試系統
三、曲線記錄功能
在機器停機狀態下，可隨時插入U盤導出或上傳數據，并可通過隨機贈送軟件將導出來的文件在電腦查看或轉成EXCEL格式。
控制系統：儀表配備USB端口，可直接通過端口驅動微型打印機預覽及打印(選配)。
控制器：進口微電腦濕溫度集成控制器(濕度直接顯示百分數)。
精度范圍：設定精度:溫度±0.1℃、濕度±0.1%R·H，指示精度:溫度± 0.1℃、溫度±0.1%R·H 溫濕度傳感器 鉑鉑金電阻PT100Ω。
加熱系統：獨立系統，鎳鉻合金電加熱式加熱器。
加濕系統：外置隔離式，全不銹鋼鍋爐式淺表面蒸發式加濕器。
循環系統：耐溫低噪音空調型電機，多葉式離心風輪。
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